HAST高壓蒸煮檢測

HAST(Highly Accelerated Stress Test)高壓蒸煮是一項測試微電子器件的可靠性的方法之一，通過模擬極端工作環(huán)境下的水分、溫度、氣壓等因素，對器件的耐受程度進(jìn)行評估，從而提高產(chǎn)品的可靠性。

測試項目

HAST測試主要關(guān)注器件的結(jié)構(gòu)、材料、制作工藝和生產(chǎn)流程方面，其測試項目包括：

密封性測試；    濕熱環(huán)境下電絕緣強度以及擊穿電壓試驗；    鹽霧腐蝕測試；    表面紋理變化觀察等。 測試條件

HAST測試的環(huán)境條件主要包括：溫度140℃、相對濕度95%、氣壓3.5atm，測試時長24-96小時（視不同測試項目而定）。

國內(nèi)外測試標(biāo)準(zhǔn)

國際上對于HAST測試的標(biāo)準(zhǔn)主要有JEDEC JESD22-A110和MIL-STD-750C，國內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)主要有GB/T2423.12-2013和GJB657A-2009等。

樣品要求

測試樣品一般為器件的部分組件或完整板卡，需符合相關(guān)的生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。測試樣品需采用差異性較大的相關(guān)材質(zhì)進(jìn)行對比測試。

測試流程

測試流程如下：

設(shè)定測試溫度、相對濕度、測試時間；    將測試樣品放入高壓蒸煮測試設(shè)備內(nèi)，并進(jìn)行密封；    測試結(jié)束后，取出測試樣品，進(jìn)行各項測試指標(biāo)的測量和檢驗；    *終生成測試報告。 測試報告

測試報告將列明每個測試項目所使用的測試設(shè)備和測試方法，測試結(jié)果以及如果發(fā)現(xiàn)問題，則會詳細(xì)解釋所發(fā)現(xiàn)的問題，并給出相應(yīng)的建議。

如何申請測試

針對需要進(jìn)行HAST測試的客戶，需要在專業(yè)的第三方檢測機構(gòu)（如、UL等）進(jìn)行申請。在申請測試前，客戶需要向檢測機構(gòu)提供樣品信息及相關(guān)資料，以方便檢測機構(gòu)預(yù)估測試費用并計劃測試流程。

HAST測試可以幫助客戶在產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)過程中提前發(fā)現(xiàn)問題并加以解決，在保證產(chǎn)品質(zhì)量的也節(jié)約了客戶的時間和成本。