隨著半導體技術(shù)的迅猛發(fā)展,移動存儲設(shè)備快速增長.FLASH芯片作為移動存儲設(shè)備中最常用的器件,得到了日趨廣泛的應(yīng)用,對FLASH芯片的測試要求也越來越高.本文介紹了FLASH存儲器的基本結(jié)構(gòu)和測試原理,特別是詳細分析,研究了可應(yīng)用于FLASH芯片的測試算法,對算法進行了部分改進與綜合.測試實驗表明,在與傳統(tǒng)的棋盤格測試方法相同的故障覆蓋率時,本方法的測試效率更高。