| 品牌： | DENKA |
| 型號(hào)： | 電化TFE |
| 產(chǎn)地： | 日本原裝進(jìn)口 |
| 單價(jià)： | 80.00元/個(gè) |
| 發(fā)貨期限： | 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨 |
| 所在地： | 江蘇 蘇州 |
| 有效期至： | 長期有效 |
| 發(fā)布時(shí)間： | 2023-12-15 09:56 |
| 最后更新： | 2023-12-15 09:56 |
| 瀏覽次數(shù)： | 236 |
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電化TFE可以在鎢單晶針狀物的表面上形成覆有鋯和氧的吸附層，從而被當(dāng)作減少鎢的功函數(shù)的肖特基發(fā)射極來使用。不但具有超過單晶體LaB6陰極100倍以上的光亮度能量偏差小，是低加速電壓也可以有縮小探頭直徑的可能性。適合應(yīng)用在半導(dǎo)體材料和設(shè)備機(jī)械的表面觀察上。 不僅放射電流是極其穩(wěn)定的，還壽命長，以半導(dǎo)體檢查裝置或電子束曝光設(shè)備為首，在各種電子束應(yīng)用設(shè)備上被使用采納。
電化TFE|DENKA代理特點(diǎn)通過先進(jìn)的針加工技術(shù)，制造出多種大小范圍的曲率半徑的芯片。
因?yàn)槠钚?，具備再現(xiàn)性能好的電子發(fā)射特點(diǎn)。
可以對應(yīng)指定的電子槍的配置。
也可以提供芯片，壓縮機(jī)，引出電極為一體的模塊形式。
高分辨率掃描電子顯微鏡，透射分析電子顯微鏡，半導(dǎo)體測試裝置（CD-SEM，DR-SEM EBI），電子束曝