無(wú)損探傷，也叫無(wú)損檢測(cè)，英文Non Destructive Testing(NDT),是在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的情況下，對(duì)材料、零件、設(shè)備進(jìn)行缺陷檢測(cè)。是設(shè)計(jì)和制造質(zhì)量都符合規(guī)范要求的產(chǎn)品，在經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的使用后，也有可能發(fā)生破壞事故。在產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造階段、使用階段，都要用無(wú)損檢測(cè)的手段保證產(chǎn)品的質(zhì)量。無(wú)損探傷被廣泛運(yùn)用在壓力容器、鋼結(jié)構(gòu)焊縫、提梁機(jī)、架橋機(jī)、管道焊縫、風(fēng)機(jī)塔、游樂設(shè)備、吊鉤、吊桿、行車、鍛件等等的檢測(cè)。

常用的無(wú)損探傷方法有：超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、射線探傷、TOFD檢測(cè)等等。

X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料，并由于材料對(duì)射線的吸收和散射作用的不同，從而使膠片感光不一樣，于是在底片上形成黑度不同的影像，據(jù)此來(lái)判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗(yàn)方法。

當(dāng)X射線穿透物質(zhì)時(shí)，由于射線與物質(zhì)的相互作用，將產(chǎn)生一系列極為復(fù)雜的物理過(guò)程，其結(jié)果使射線被吸收和散射而失去一部分能量，強(qiáng)度相應(yīng)減弱，這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。X射線探傷的實(shí)質(zhì)是根據(jù)被檢驗(yàn)工件與其內(nèi)部缺欠介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度不同，而引起射線透過(guò)工件后強(qiáng)度差異，使感光材料（膠片）上獲得缺欠投影所產(chǎn)生的潛影，經(jīng)過(guò)暗室處理后獲得缺欠影像，再對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定工件內(nèi)部缺欠的性質(zhì)和底片級(jí)別。

工業(yè)領(lǐng)域，最常用的是X射線探傷照相法。這種方法是用感光膠片代替熒光觀察法的熒光屏，當(dāng)膠片被X射線照射而感光后，復(fù)經(jīng)顯影，即可顯現(xiàn)出不同的感光程度。若射線的強(qiáng)度越大，則膠片的感光越多，顯影后的黑度就越大。當(dāng)某處與周圍對(duì)比的黑度較大時(shí)，則可確認(rèn)存在缺陷。照相法的靈敏度高、適應(yīng)性強(qiáng)，膠片可長(zhǎng)期保存待查。